Escribe para buscar

Destacado

Empresas agrícolas de Latinoamérica y África visitarán Fame Innowa

Representantes de empresas agrícolas de República Dominicana, Panamá, Costa Rica, Ecuador y Mauritania visitarán la Feria de Tecnología Agrícola Fame Innowa del 19 al 22 de abril en el Palacio de Ferias y Exposiciones de la Región de Murcia. Las misiones comerciales permitirán generar sinergias con las empresas expositoras en la Feria.

Comparte
Fame Innowa

La feria de tecnología agrícola Fame Innowa contará con una importante dimensión internacional con la participación de misiones comerciales de empresas productoras agrícolas de Latinoamérica y África que visitarán la Región de Murcia y, en concreto, la Feria del 19 al 22 de abril.

En concreto, representantes de empresas productoras de República Dominicana, Panamá, Costa Rica y Ecuador visitarán la Región de Murcia en una agenda en la que, además de visitar a empresas expositoras y asistir a las jornadas técnicas del 20 al 22 de abril, conocerán las instalaciones de la empresa murciana de tecnología de riego Ritec, Mercamurcia y FECOAM.

Por otro lado, Fame Innowa también recibirá la visita de representantes de otra misión comercial de la mano del INFO procedente de Mauritania. Los productores podrán conocer las últimas novedades tecnológicas en los diferentes expositores y en las ponencias de la veintena de expertos que participan en las jornadas técnicas que se centrarán en digitalización y sostenibilidad en el sector agro.

Los cafés networking que se celebrarán en las jornadas técnicas serán la mejor oportunidad para que los profesionales agrícolas asistentes a Fame Innowa puedan interactuar con estos representantes del sector agro de Latinoamérica y África para generar sinergias e intercambios comerciales.

Las inscripciones para asistir a las jornadas todavía están abiertas y pueden formalizarse en https://ifepa.es/fame-innowa/

Etiquetas

Te puede interesar

Deja un comentario

Tu dirección de email no será publicada. Los campos requeridos están marcados con *